Gauti savo profilį
Cituota
Visi | Nuo 2019 | |
---|---|---|
Šaltiniai | 2222 | 1166 |
h-rodyklė | 27 | 16 |
i10-rodyklė | 40 | 24 |
Viešas pasiekiamumas
Peržiūrėti viską15 straipsnių
0 straipsnių
pasiekiami
nepasiekiami
Pagal finansavimo įpareigojimus
Bendraautoriai
- Sébastien MarcelSenior researcher ( Idiap research institute ) and Professor ( University of Lausanne )Patvirtintas el. paštas idiap.ch
- Ganesh SivaramanSenior Research Scientist, PindropPatvirtintas el. paštas pindrop.com
- Parav NagarshethPatvirtintas el. paštas gatech.edu
- MEIGNIER SylvainProfessor in Computer Science, LIUM, Le Mans University, FrancePatvirtintas el. paštas univ-lemans.fr
- Laurent El ShafeyGoogle LLCPatvirtintas el. paštas google.com
- Avrosh KumarPindropPatvirtintas el. paštas pindrop.com
- Tomi KinnunenProfessor, University of Eastern FinlandPatvirtintas el. paštas uef.fi
- Paul GayUniversité de Pau et des Pays de l'AdourPatvirtintas el. paštas insa-rouen.fr
- Kailash PatilDirector of Research, PindropPatvirtintas el. paštas jhu.edu
- Julien PinquierIRITPatvirtintas el. paštas irit.fr
- Alexandros LazaridisSwisscom AGPatvirtintas el. paštas swisscom.com
- Zhizheng WuChinese University of Hong Kong, Shenzhen, Mel LabPatvirtintas el. paštas cuhk.edu.cn
- Aleksandr SizovUniversity of Eastern FinlandPatvirtintas el. paštas cs.uef.fi
- Jean-Marc OdobezHead of the Perception and Activity Understanding group, Idiap Research Institute and EPFLPatvirtintas el. paštas idiap.ch
- kedar phatakSenior Research Scientist at PindropPatvirtintas el. paštas pindrop.com
- Manuel GüntherUniversity of Zurich, Department of InformaticsPatvirtintas el. paštas ifi.uzh.ch
- Yu-Gang JiangProfessor, Fudan University. IEEE & IAPR FellowPatvirtintas el. paštas fudan.edu.cn
- Shih-Fu ChangProfessor of Electrical Engineering and Computer Science, Columbia UniversityPatvirtintas el. paštas columbia.edu
- Junfeng HeResearch Scientist, Google ResearchPatvirtintas el. paštas columbia.edu
- Eric ZaveskyDirector Inventive Science at AT&TPatvirtintas el. paštas research.att.com